Powiadomienia:
Oświadczenia:

Polityka prywatności

Zgody:

Nowe maszyny w parku maszynowym: wiertarka Schmoll Maschinen oraz spektrometr X-Ray HITACHI XSTRATA 920

2021-09-16

W ostatnich tygodniach nasz zakład produkcyjny wzbogacił się o wiertarkę niemieckiej firmy Schmoll Maschinen oraz spektrometr X-Ray HITACHI XSTRATA 920.

 

Wiertarka Schmoll Maschinen reprezentuje grupę wyjątkowo szybkich urządzeń z automatycznymi podajnikami pakietów do wiercenia, które wiercą z dokładnością ±1 mils (0,0254 mm).


Urządzenia te wyposażone są w:

 

– wysokoobrotowe głowice wiercące (do 250 tys. obrotów na minutę);

– laserowy system kontroli narzędzi (wierteł) w zakresie długości i średnicy;

– system CBD (Contact Bit Detection) umożliwiający kontrolę narzędzi w czasie rzeczywistym i wiercenie na żądaną głębokość (ślepe przelotki);

– magazynek podający na 20 pakietów;

– magazynek na 2200 narzędzi z inteligentnym systemem zarządzania.

 

Dzięki magazynkowi podającemu pakiety oraz magazynkowi na narzędzia, praca wiertarek jest ciągła (maszyna wierci podczas uzupełniania bądź wymiany narzędzi przez operatora). Dodatkowo posiada kamerę, dzięki której bazuje się do otworów wywierconych podczas dopasowywania warstw wewnętrznych do odwiertu. Zwiększa to dokładność pozycjonowania odwiertu poprzez eliminację błędów operatora lub niedoskonałości urządzenia pakietującego, mogących powstawać przy składaniu pakietu do wiercenia.

 

Wiertarka ta pomoże nam szczególnie w realizacji zamówień na obwody wielowarstwowe, które stanowią dużą część produkowanych przez nas obwodów drukowanych.

 

Wiertarka Schmoll Maschinen

 

X-Ray HITACHI XSTRATA 920

 

Bezprądowe nakładanie powłoki niklowej i złotej (proces ENIG) jest jednym z najbardziej popularnych pokryć powierzchni lutowniczych. Odpowiednia grubość złota, a także skład chemiczny powłoki niklowej zapewniają bardzo dobrą lutowność płytek.

 

W celu lepszej kontroli jakości kładzionej powłoki ENIG nabyliśmy nowe urządzenie pomiarowe do nieniszczącej analizy grubości złota i niklu.

Jest to spektrometr korzystający z fluorescencji rentgenowskiej XSTRATA 920 z detektorem SDD z firmy HITACHI.

 

Urządzenie jest zgodne ze wszystkimi zaleceniami normy IPC-4552A, określające wymagania techniczne i jakościowe dla procesu ENIG.

 

Urządzenie pozwala mierzyć grubość złota poniżej 0,1µm z dokładnością +/-0,005µm. Prawidłowa grubość złota to kluczowy element odpowiadający za powstanie dobrej jakości połączenia lutowniczego. Wraz z analizą grubości niklu urządzenie pozwala określić zawartość procentową fosforu w powłoce niklowej. Ma to decydujący wpływ na powstawanie efektu czarnych padów. Zawartość fosforu w powłoce niklowej wpływa na powstawanie tego efektu. Jego bieżąca kontrola pozwala znacząco ograniczyć możliwość wyprodukowania płytki posiadającej wadę związaną z efektem czarnych padów.

 

 

X-Ray HITACHI XSTRATA 920